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林赛斯 霍尔效应测量系统 L79/HCS
L79/HCS系统可用于半导体组件性能表征,包括:迁移率,电阻率,载流子浓度和霍尔常数。基本型提供不同形状和温度条件下所需的样品支架。选配低温(液氮)附件结合高温炉(最高温度可达240°C)可保证
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Seeback赛贝克效应测量系统
Seeback赛贝克效应测量系统高精度赛贝克系数测量系统!赛贝克(Seeback)效应测量系统是用来精确测量导电物质、金属、有机导体和半导体的赛贝克系数的仪器
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Lake Shore交直流霍尔效应测试系统 8400
8400系列交直流霍尔效应测试系统 Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法,应用领域十分广泛。交流磁场测量选件
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霍尔效应测量系统
仪器简介:欧洲高性能霍尔效应测量系统,广泛应用于半导体材料、低阻材料和高阻材料等物理性能的研究;可对多种重要物理参量如:电阻率、霍尔系数、载流子浓度、迁移率、磁电阻和V-I曲线等测量和
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磁光克尔效应测量系统
品简介磁光克尔效应测量系统市场上配置最灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE当聚焦激光束照射磁性材料(主要是磁性薄膜)时,因纵向磁光克尔效应和极向磁
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磁光克尔效应测量系统
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英国 NanoMagnetics 霍尔效应测量系统
价格电议ezHEMS 霍尔效应测量系统 上海伯东英国 NanoMagnetics 仪器 ezHEMS 霍尔效应测量系统为 Van der Pauw 和 Hall Bar 测量提供了一个创新的解决方案
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宽温高精度霍尔效应测试系统(70-730K)
宽温高精度霍尔效应测试系统(70-730K)高精度、宽变温范围、高稳定度霍尔效应测量系统!变温霍尔效应测量系统是利用范德堡测量技术对半导体材料的电阻率
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磁光克尔(MOKE)效应测量系统
磁光克尔效应测量系统高性价比磁光克尔效应测量系统!当一束线偏振光照被磁性介质反射后,反射光的偏振面相对于入射光的偏振面有一个小的角度偏转(克尔旋转角)
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Pre 4000 大气预浓缩仪(斯特林)
产品概述Pre 4000 大气预浓缩仪采用三级冷阱设计,结合创新的斯特林制冷技术,无需消耗液氮或液态CO2,操作简便稳定可靠,可完美替代液氮制冷,为检测痕量多组分VOCs 提供了新的解决方案。性能
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